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ESA半導體材料

炙燒測試板

型號: The design for Aehr、Ando、 Jec 、 SSE system

炙燒測試板

產品資訊

產品名稱炙燒測試板
代理廠牌ESA
產品型號The design for Aehr、Ando、 Jec 、 SSE system
聯絡專員sw@sellingware.com.tw
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產品詳細說明

適用於 DBI、MBI 和 TDBI 應用的高品質老化測試板

  • 適用於 DBI、MBI 和 TDBI 應用的高品質老化測試板

  • 適用於 HTOL、THB、HAST 和 EM 應用的可靠電路板

  • 交貨週期短:樣品3週,大量生產2週

  • 提供 2 至 16 層產品,價格實惠

  • 為客戶提供免費申請和諮詢服務

  • 具有成熟品質和可靠性的細間距CSP板(間距最大可達0.5mm)。

從設備應用到系統和板級應用的完整交鑰匙解決方案

  • 從設備應用到系統和板級應用的完整交鑰匙解決方案

  • 我們始終確保客戶對我們的產品完全滿意。

  • 我們提供整體解決方案,以滿足您不斷增長的需求和未來的目標。

  • 我們為所有客戶提供優質的售後支援。

  • TDBI/MBI 功能配置以最短測試時間TDBI/MBI 功能配置以最短測試時間

  • 確保所有類型裝置和電路板的最大密度

  • 在小間距 CSP 板(間距從 0.8 毫米到 0.5 毫米)方面擁有良好的業績記錄

  • 首次合格,首件樣品即符合標準,確保在最短時間內滿足客戶需求。